導入事例・効果

ICチップのピン位置計測

ICチップのピン位置計測 1

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業界
半導体
カメラ
エリアカメラ
レンズ
詳細に記載
照明
詳細に記載
ライブラリ
HALCON

こちらの事例は、半導体業界における半導体チップの画像検査の事例です。

本事例では画像処理ライブラリにHALCONを採用し、リード計測を行います。

具体的に、チップ上の四角形部分をサブピクセル精度で測定し、かつそれぞれの四角形の中心を比較することで、位置づれの度合いを計測することを目的としています。

具体的にテンプレートの領域と計測したいピンの領域との相対関係に基いて計測領域を生成し、ICのピン幅を計測することを目的としています。

パターンマッチングの機能を利用することで、位置決めやその後の様々な検査を実現することが可能になります。

本画像検査の場合、パターンマッチングのためのモデル作成用テンプレート領域とICのピンがある位置を指定するといったプロセスが必要となります。

そうすることにより、計測対象であるICのピンの位置をテンプレートからの相対位置で見つけることが可能となります。

画像検査.COMを運営する岡部機械工業では、こうしたHALCONに代表されるハイエンドの画像処理ライブラリの活用はもちろん、最適なカメラの選定、照明の選定、さらには正確さと高速対応、クリーン対応が求められる搬送装置等の前後工程の設備も一貫して対応が可能であることが特徴となっております。

こうした半導体や半導体チップ、あるいは各種電子部品の画像検査、外観検査、あるいはこうした各種検査の自動化につきましては、お気軽に岡部機械工業までお問合せください。

テスト検査のご依頼につきましては、大歓迎しております。

※本事例の写真につきましては、HALCON製品のホームページ(https://linx.jp/casestudy/casestudy_cat/halcon/)からの引用による、イメージ画像となっております。

テスト検査のご依頼大歓迎!

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